GB/T 1553-1997 英文版, GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 - GB/T 1553-1997, GB 1553-1997, GBT 1553-1997, GB/T1553-1997, GB/T 1553, GB/T1553, GB1553-1997, GB 1553, GB1553, GBT1553-1997, GBT 1553, GBT1553

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GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 (英文版)
标准编号:	GB/T 1553-1997	标准状态:	abolished 订阅状态变动提醒电子邮箱:
译文语言:	英文	文件格式:	PDF
中文字符数:	16000 字	翻译价格(元):	2440.0 订阅价格变动提醒电子邮箱:
实施日期:	1997-1-2	交付时间:	付款后 1~3 个工作日

标准编号:	GB/T 1553-1997
中文名称:	硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
英文名称:	Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
中标分类:	H21 金属物理性能试验方法
行业分类:	GB 国家标准
ICS分类:	77.040.01 77.040.01 金属材料试验综合 77.040.01
发布机构:	国家技术监督局
发布日期:	1997-06-03
实施日期:	1997-1-2
标准状态:	abolished
被新标准替代:	GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
被替代日期:	2010-6-1
作废日期:	2010-06-01
替代旧标准:	GB 1553-1979 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法 GB 5257-1985 锗单晶少数载流子寿命直流光电导衰退测量方法
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	16000 字
翻译价格(元):	2440.0
交付时间:	付款后 1~3 个工作日

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