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GB 4058-1983   硅单晶微缺陷的热氧化腐蚀检验方法 (英文版)
标准编号: GB 4058-1983 标准状态:superseded 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
中文字符数: 8000 字 翻译价格(元):560.0 订阅价格变动提醒
实施日期:1984-12-1 交付时间: 付款后 1~3 个工作日
标准编号: GB 4058-1983
中文名称: 硅单晶微缺陷的热氧化腐蚀检验方法
英文名称: Single crystal silicon--Detection of microdefects--Hot oxidation-etching technique
中标分类: H25    金属化学性能试验方法
行业分类: GB    国家标准
实施日期: 1984-12-1
标准状态: superseded
被新标准替代:GB/T 4058-1995 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
被替代日期:1995-1-2
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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