标准翻译网 中标分类 行业分类 ICS分类 最新标准
登录注册
您的位置: 标准明细
GB 3439-1982   半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 (英文版)
标准编号: GB 3439-1982 标准状态:valid 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
中文字符数: 31000 字 翻译价格(元):4240.0 订阅价格变动提醒
实施日期:1983-10-1 交付时间: 付款后 1~5 个工作日
标准编号: GB 3439-1982
中文名称: 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
英文名称: General principles of measuring methods of TTL circuits for semiconductor integrated circuits
中标分类: L56    半导体集成电路
行业分类: GB    国家标准
实施日期: 1983-10-1
标准状态: valid
被新标准替代:SJ/T 10735-1996
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
中文字符数: 31000 字
翻译价格(元): 4240.0
交付时间: 付款后 1~5 个工作日
联系我们
服务热线: 400-001-5431
电话: 010-8572 5110
传真: 010-8581 9515
邮箱: bz@bzfyw.com
send me a messageQQ: 1780087563
微信:
我的购物车
微信联系客服
关于我们 | 联系我们 | 收费付款
服务热线：400-001-5431 | 电话：010-8572 5110 | 传真：010-8581 9515 | Email: bz@bzfyw.com | 点击这里给我发消息QQ: 1780087563
版权所有： 北京悦尔信息技术有限公司 2008-2020 京ICP备17065875号-1
 
 
本页关键词：
GB 3439-1982, GB/T 3439-1982, GBT 3439-1982, GB3439-1982, GB 3439, GB3439, GB/T3439-1982, GB/T 3439, GB/T3439, GBT3439-1982, GBT 3439, GBT3439