| 标准编号 |
标准名称 |
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标准状态 |
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| DB31/ 652-2012 |
通信行业单位信息流量能源消耗限额（移动通信宏基站和数据中心部分） |
770.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2013-2-1 |
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| DB31/ 653-2012 |
通信基站空调能效限定值 |
770.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2013-2-1 |
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| SJ 1553-1980 |
测温型负温度系数热敏电阻器总技术条件 |
700.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1987-8-1,1980-10-1 |
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| SJ 1557-1980 |
旁热型负温度系数热敏电阻器总技术条件 |
1800.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1992-5-1,1980-10-1 |
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| SJ 2028-1982 |
直热式正温度系数热敏电阻器总技术条件 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1982-9-1 |
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| SJ 2028.1-1983 |
ＭＺ１１型补偿用正温度系数热敏电阻器 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1983-10-1 |
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| SJ 2028.2-1983 |
ＭＺ６１型控温用正温度系数热敏电阻器 |
800.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1983-10-1 |
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| SJ 2214.1-1982 |
半导体光敏管测试方法总则 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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| SJ 2214.10-1982 |
半导体光敏二、三极管光电流的测试方法 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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| SJ 2214.2-1982 |
半导体光敏二极管正向压降的测试方法 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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| SJ 2214.3-1982 |
半导体光敏二极管暗电流的测试方法 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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| SJ 2214.4-1982 |
半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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| SJ 2214.5-1982 |
半导体光敏二极管结电容的测试方法 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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| SJ 2214.6-1982 |
半导体光敏三极管集电极－发射极反向击穿电压的测试方法 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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| SJ 2214.7-1982 |
半导体光敏三极管饱和压降的测试方法 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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| SJ 2214.8-1982 |
半导体光敏三极管暗电流的测试方法 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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| SJ 2214.9-1982 |
半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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| SJ 2215.1-1982 |
半导体光耦合器测试方法总则 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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| SJ 2215.10-1982 |
半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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| SJ 2215.11-1982 |
半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法 |
100.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-10-01,2015-10-1,1983-7-1 |
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