标准翻译网 中标分类 行业分类 ICS分类 最新标准
登录注册
您的位置: 标准查询 现行 即将实施 被替代 即将被替代 已作废 即将作废
标准编号 标准名称 翻译价格(元) 交付时间 标准状态 加入购物车
SJ 53930/1-2002 半导体光电子器件GR8813型红外发射二极管详细规范 420.0 付款后 1~3 个工作日 valid
SJ 2658.7-1986 半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法 180.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法 240.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法 180.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.13-1986 半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法 240.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.3-1986 半导休红外发光二极管测试方法 反向电压的测试方法 180.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.5-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法 180.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法 总则 60.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.10-1986 半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法 240.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.8-1986 半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法 240.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.9-1986 半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法 240.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
JB/T 10875-2008 发光二极管光学性能测试方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
SJ 2658.2-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法 180.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.6-1986 半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率的测试方法 240.0 付款后 1~3 个工作日 valid
SJ 2658.11-1986 半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法 240.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
关于我们 联系我们 收费付款
服务热线:400-001-5431 | 电话:010-8572 5110 | 传真:010-8581 9515 Email: bz@bzfyw.com | QQ: 1780087563
版权所有:北京悦尔信息技术有限公司 2008-2020 京ICP备17065875号