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GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法 1200.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 1558-2009 硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 14139-2009 硅外延片 600.0 付款后 1~3 个工作日 to be abolished
GB/T 24582-2009 酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质 360.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 4061-2009 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 360.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 34479-2017 硅片字母数字标志规范 840.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 6621-2009 硅片表面平整度测试方法 360.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 24579-2009 酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物 780.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 14863-2013 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法 1200.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法 1800.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 29057-2012 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程 1080.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法 780.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 13388-2009 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 32279-2015 硅片订货单格式输入规范 1080.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
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