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GB/T 5238-1995 |
锗单晶 |
300.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2010-06-01,2010-6-1,1996-3-1 |
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GB/T 13840-1992 |
晶片承载器 |
1480.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1993-8-1 |
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GB/T 15023-1994 |
电气绝缘无溶剂可聚合树脂复合物 试验方法 |
1020.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2008-05-20,2008-5-20,1994-1-2 |
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GB/T 5654-1985 |
液体绝缘材料工频相对介电常数、介质损耗因数和体积电阻率的测量 |
480.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2008-05-20,2008-5-20,1986-1-2 |
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GB/T 6616-1995 |
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 |
1040.0 |
付款后 个工作日 |
abolished2010-06-01 ,,1995-1-2 |
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GB/T 1409-1988 |
固体绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波长在内)下相对介电常数和介质损耗因数的试验方法 |
4690.0 |
付款后 个工作日 |
abolished2006-06-01,2006-6-1,1989-7-1 |
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GB/T 3655-1992 |
电工钢片(带)磁、电和物理性能测量方法 |
1080.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,2001-9-1,1993-6-1 |
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GB 3074.3-1982 |
石墨电极氧化性测定方法 |
60.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2008-11-01,2008-11-1,1983-3-1 |
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GB 13950-1992 |
电气绝缘用聚酯薄膜 |
480.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2004-08-01,2004-8-1,1993-7-1 |
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GB/T 14849.2-1993 |
工业硅化学分析方法 铬天青-S分光光度法测定铝量 |
120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2008-04-01,2008-4-1,1994-9-1 |
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GB 6156-1985 |
炭素材料真气孔率测定方法 |
60.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2009-10-01,2009-10-1,1986-6-1 |
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GB/T 14863-1993 |
用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2014-08-15,2014-8-15,1994-10-1 |
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GB/T 10579-1989 |
有溶剂绝缘漆检验、包装、标志、贮存和运输通用规则 |
720.0 |
付款后 个工作日 |
superseded,2004-8-1,1990-1-1 |
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GB 9633-1988 |
微波频率应用的旋磁材料性能测试方法 |
1800.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
abolished2013-06-01 ,2013-6-1,1989-2-1 |
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GB/T 3073-1982 |
高功率石墨电极 |
240.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1993-7-1,1983-3-1 |
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GB/T 1475-1989 |
镓 |
180.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-12-01,2005-12-1,1990-1-1 |
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GB 10582-1989 |
测定绝缘材料而引起的电腐蚀的试验方法 |
480.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2009-11-01,2009-11-1,1990-1-1 |
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GB/T 13465.1-1992 |
不透性石墨材料力学性能试验方法总则 |
120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2003-04-01,2003-4-1,1993-5-1 |
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GB/T 15022-1994 |
电气绝缘无溶剂可聚合树脂复合物定义和一般要求 |
60.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2009-12-01,2009-12-1,1994-12-1 |
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GB/T 1310.1-2006 |
电气用浸渍织物第1部分:定义和一般要求 |
300.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2007-4-1 |
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